Application de l'algorithme EM au modèle des risques concurrents avec causes de panne masquées

Authors: Michaud, Isabelle
Advisor: Duchesne, Thierry
Abstract: Dans un modèle de durées de vie avec des risques concurrents, les systèmes peuvent tomber en panne dans le temps. Ces pannes sont dues à une cause parmi plusieurs possibles et il arrive parfois que celle-ci soit inconnue. C'est alors qu'on peut faire appel à l'algorithme EM pour calculer les estimateurs du maximum de vraisemblance. Cette technique utilise la fonction de vraisemblance des données complètes pour trouver les estimateurs même si les données observées sont incomplètes. Pour les systèmes ayant leur cause de panne inconnue, on peut en prendre un échantillon pour une inspection plus approfondie qui dévoilera les vraies causes de panne. Cette étape peut améliorer l'estimation des probabilités de masque et des fonc- tions de risque spécifiques aux causes de panne. Après avoir expliqué la théorie de l'algorithme EM, le modèle des risques concurrents, ainsi que les travaux réalisés sur le sujet, on étudie l'impact qu'a sur les estimateurs le fait de ne pas envoyer un échantillon des systèmes masqués à un examen approfondi qui permettrait de trouver la vraie cause de panne.
Document Type: Mémoire de maîtrise
Issue Date: 2005
Open Access Date: 11 April 2018
Permalink: http://hdl.handle.net/20.500.11794/18084
Grantor: Université Laval
Collection:Thèses et mémoires

Files in this item:
SizeFormat 
22894.pdf658.37 kBAdobe PDFView/Open
All documents in CorpusUL are protected by Copyright Act of Canada.